產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng )用于測量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測量精度高、性能穩定、操作簡(jiǎn)單、測試完畢后高壓短路放電保護等優(yōu)點(diǎn)，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。

技術(shù)參數

電阻范圍：（10⁴ ～10 ¹⁷）Ω。

電阻測量誤差：    1×10⁴～1×10⁹ Ω±1%；

  1×10⁹～1×10¹² Ω±1.5%；

1×10¹²～1×10¹⁷ Ω±5%；         

    測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

絕緣電阻

通常采用絕緣電阻測試儀(又稱(chēng)高阻計、兆歐表)進(jìn)行測量。規定以加電壓60s后測得的數值為該試品的絕緣電阻。

當被試品絕緣中存在貫通的集中性缺陷時(shí)，反映Ig的絕緣電阻往往明顯下降，于是用絕緣電阻表檢查時(shí)便可以發(fā)現。但對于許多電氣設備，例如電機，反映Ig的絕緣電阻往往變動(dòng)甚大，因為它總和被試品的溫度及體積尺寸有關(guān)系，往往難以給出一定的絕緣電阻判斷標準。通常把處于同樣運行條件下的不同相的絕緣電阻進(jìn)行比較，或是把這一次測得的絕緣電阻和過(guò)去在相近溫度下對它測出的絕緣電阻進(jìn)行互相比較來(lái)發(fā)現問(wèn)題。

需要注意的是，有時(shí)，雖然某些集中性缺陷已發(fā)展得很?chē)乐?，以致在耐電壓試驗中被擊穿，但耐電壓試驗前測出的絕緣電阻值和吸收比卻都很高，這是因為這些缺陷雖然嚴重，但還沒(méi)有貫通的緣故。因此，只憑絕緣電阻的測量來(lái)判斷絕緣是不可靠的，但它畢竟是一種簡(jiǎn)單而有一定效果的方法，故使用十分普遍。

常用接線(xiàn)方法

ZST-212薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng )用三電極系統測試絕緣材料的體積電阻和表面電阻。

屏蔽箱內三個(gè)接線(xiàn)端子，左側測試端插黑線(xiàn)，接下電極（直徑最大的圓柱電極），中間插入圓柱電極（測試電極），右側插紅線(xiàn)，接圓環(huán)電極。